設備紹介 | ティディエス株式会社 TDS

型式　　　　　LZ-330J／McWAVE
メーカー　　 (株)ケット科学研究所
用途　　　　　磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜の測定／膜厚計からパソコンへのデータ送信
分類　　　　　測定装置

磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の両方が測定できるデュアルタイプの膜厚計です。 また、データ管理ソフトにより膜厚計からの測定データをパソコンに取り込み、集積・分析して各種の統計処理を行い、 グラフ表示と印刷が可能です。データをExcelなどの表計算形式で出力することもできます。

測定対象	磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	電磁誘導式：0～1500μmまたは60.00mils
渦電流式：	0～800μmまたは32.00mils
測定精度	50μm未満：±1μm、50μm以上：±2％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm

磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚測定

表意面処理膜厚測定値
統計データ
Ｘ－Ｒ
ヒストグラム 印刷

CNC三次元測定機	BHトレーサー（磁化特性自動記録装置）	自動吸引力測定機
引張・圧縮試験機	表面粗さ形状測定機	ばね試験機
測定顕微鏡	デジタル寸法測定器	サーモグラフィー
計測システム	簡易無響箱	真円度測定機